提供透射电镜（TEM）实验服务
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称 TEM）, 可以看到在光学显微镜下无法看清的小于 0.2um 的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称 TEM）, 可以看到在光学显微镜下无法看清的小于 0.2um 的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称 TEM）, 可以看到在光学显微镜下无法看清的小于 0.2um 的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率，目前 TEM 的分辨力可达 0.2nm。 透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收故穿透力低, 样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为 50-100nm, 所以透射电镜观察时的样品需要处理得很薄。 服务内容 可应用于细胞样本、微生物样本以及组织块样本等结构形态的观察 服务流程 1. 将需检测样本运输到我公司或者由我们公司提供样本； 2. 根据客户要求对需检测样本进行透射电子显微镜实验，提供客户影像图片。
设备介绍 JEM-1400 120kV 透射电子显微镜
客户提供的材料
1、固定好的检测样本或新鲜组织样本 2、确定取材部位，尽量减小牵拉、挫伤与挤压等机械损伤，组织体积一般不超过 1 mm×1 mm×1 mm ，迅速投入电镜固定液 4℃ 固定 2～4 h。
